smartWLI Technologie Vorteile der high Perfomance Profiler Kohärenz-Scanning (Weißlicht) Interferometer Interferometrie Objektive Interferenz von weißem Licht spektrale Optimierung der Lichtquelle HD-EPSI (high density-extended phase shift interferometry) Vergleich von VSI, EPSI und HD-EPSI Profil Mittelung Vergleich von HD-EPSI und Profil Mittelungen Schnellere Messung durch die Verwendung von Prescans Leistungsfähige Algorithmen für steile Oberflächen Beispiele für steile konkave und konvexe Oberflächen firebolt, 5x Objektive – 3d gedruckte Metalloberfläche Beschleunigung durch Dezimation Beschleunigung durch ROIs (reduced areas of interest) Messpunktabstand und optische Auflösung Unterschied zwischen Mikroskopie und 3d Messungen praktische Tests der Auflösung optischer 3D Profiler Vergleich zu taktilen Messungen Abtasttheorem und optische Auflösung Kratzer eines taktilen Messgerätes auf einem Raunormal korrekte Messung zertifizierter Oberflächen-Raunormale smartSTITCH perfekte Messung größerer Bereiche