smartWLI Technologie
Vorteile der high Perfomance Profiler
Kohärenz-Scanning (Weißlicht) Interferometer
Interferometrie Objektive
Interferenz von weißem Licht
spektrale Optimierung der Lichtquelle
HD-EPSI (high density-extended phase shift interferometry)
Vergleich von VSI, EPSI und HD-EPSI
Profil Mittelung
Vergleich von HD-EPSI und Profil Mittelungen
Schnellere Messung durch die Verwendung von Prescans
Leistungsfähige Algorithmen für steile Oberflächen
Beispiele für steile konkave und konvexe Oberflächen
firebolt, 5x Objektive – 3d gedruckte Metalloberfläche
Beschleunigung durch Dezimation
Beschleunigung durch ROIs (reduced areas of interest)
Messpunktabstand und optische Auflösung
Unterschied zwischen Mikroskopie und 3d Messungen
praktische Tests der Auflösung optischer 3D Profiler
Vergleich zu taktilen Messungen
Abtasttheorem und optische Auflösung
Kratzer eines taktilen Messgerätes auf einem Raunormal
korrekte Messung zertifizierter Oberflächen-Raunormale
smartSTITCH perfekte Messung größerer Bereiche
